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PRODUCTS

製品案内

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クライオスタットシステム

分光光度計を制御し、自動測定を行います。

特徴

  • 透明な個体試料(半導体等)の吸光度を約5K~300K(-268℃~27℃)の温度範囲で5℃ステップ毎の自動測定を行います。
  • 分光光度計の測定範囲(185nm~3300nm)をデータ保存します。
  • 測定中の吸光度と温度をグラフ表示します。
  • 分光光度計・温調器の詳細設定をソフトウェアにて設定することができます。

種類

データ収集

目的・ターゲット

分析計制御 / データ収集

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